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【2h】

The influence of resistance drift on measurements of the activation energy of conduction for phase-change material in random access memory line cells

机译：电阻漂移对随机存取存储线单元中相变材料的传导活化能测量的影响

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Oosthoek, J. L. M.; Krebs, D.; Salinga, M.; Gravesteijn, D. J.; Hurkx, G. A. M.; Kooi, B. J.;
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年度 2012
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